天瑞X荧光镀层膜厚仪

产品名称

X荧光镀层膜厚仪主要应用于金属镀层膜厚的检测，镀金、镀镍、镀锌、镀银等，天瑞仪器是生产X荧光镀层膜厚仪的厂家，分析仪器上市企业，Thick8000是目前公司达的一款，有着*的三维移动平台，清晰的样品观测系统，国内品牌。

天瑞X荧光镀层膜厚仪硬件

全景和局部两个工业高清摄像头

高低压电源

主机壹台，含下列主要部件： 

微焦斑X光管                 

大面积SDD电制冷半导体探测器

数字多道分析器

超高精度三维移动平台

开放式样品腔及铅玻璃屏蔽罩

电动调节准直器

防撞激光?；て?/span>

激光定位装置及图像自动对焦技术

天瑞X荧光镀层膜厚仪软件及其他

天瑞X射线荧光光谱仪FpThick分析软件

计算机、打印机各一台

仪器使用说明书

标准附件

准直孔：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种（已内置于仪器中）

技术指标

*的微孔准直技术：小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察：配备全景和局部两个工业高清摄像头

分析元素范围：硫（S）～铀（U）

同时检测元素：多24个元素，多达5层镀层

分析含量：一般为2ppm到99.9%

镀层厚度：一般在50μm以内（每种材料有所不同）

SDD探测器：分辨率低至135eV

准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合

仪器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

样品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

样品台尺寸：393（W）x 258 （D）mm

X/Y/Z平台移动速度：额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位精度：小于0.1um

操作环境湿度：≤90%

操作环境温度：15℃～30℃